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7XB 檢測金相顯微鏡

角度棱體簡介

平行平晶是用于以干涉法測量塊規(guī)，以及檢驗塊規(guī)、 量規(guī)、零件密封面、測量儀器及測量工具量面的研合性和平面度的 常用工具。平面平晶用于測量高光潔表面的平面度誤差，為用平面平晶檢驗量塊測量面的平面度誤差。點擊了解更多......